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Product classification探讨原子荧光光谱仪实际工作时的“干扰效应”
发布日期：2024-06-28点击次数：308
原子荧光光谱仪在实际分析中，“干扰效应”可根据其性质和产生的原因分为以下四类：
1.物理干扰
物理干扰是指试样在转移、蒸发和原子化过程中，由于试样任何物理特性的变化而引起的原子吸收强度下降的效应。物理干扰是非选择性干扰，对试样各元素的影响基本是相似的。配制与被测试样相似组成的标准样品，是消除物理干扰常用的方法。在不知道试样组成或无法匹配试样时，可采用标准加入法或稀释法来减小和消除物理干扰。
2.化学干扰
化学干扰是一种选择性干扰，是由于液相或气相中被测元素的原子与干扰物质组分之间形成热力学更稳定的化合物，从而影响被测元素化合物的解离及其原子化。磷酸根对钙的干扰，硅、钛形成难解离的氧化物、钨、硼、稀土元素等生成难解离的碳化物，从而使有关元素不能有效原子化，都是化学干扰的例子。
消除化学干扰的方法有化学分离、使用高温火焰、加入释放剂和保护剂、使用基体改进剂等方法。
3.电离干扰
在高温下原子电离，使基态原子的浓度减少，引起原子吸收信号降低，此种干扰称为电离干扰。电离效应随温度升高、电离平衡常数增大而增大，随被测元素浓度增高而减小。加入更易电离的碱金属元素，可以有效地消除电离干扰。
4.光谱干扰
光谱干扰包括谱线重叠、光谱通带内存在非吸收线、原子化池内的直流发射、分子吸收、光散射等。当采用锐线光源和交流调制技术时，前三种因素一般可不予考虑，主要考虑分子吸收和光散射的影响，它们是形成光谱背景的主要因素。
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